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測試治具-測試治具公司-鉞海電子 ：

測試治具的區(qū)別，CP和FT的不同點(diǎn)并不只是限于所在的工序期間不同，兩者在效率和功用籠蓋上都有著明顯的區(qū)別，這些信息是每一個IC從業(yè)職工需求根本了解的。

那這樣一來，咱們還需不需求CP測試?或許在CP測試期間怎么對具體測試項目進(jìn)行取舍呢?要回答這個題目，咱們就必需對CP的意圖有深入的了解.那CP的意圖究竟是啥呢?

當(dāng)然，理論上在CP期間也能夠進(jìn)行高速信號和高精度信號的測試，但這一般需求采用專業(yè)的高速探針計劃，如筆直針/MEMS探針等技能，這會大大增加硬件的本錢.多數(shù)情況下，這在經(jīng)濟(jì)視點(diǎn)上來說是分歧算的。

按照國際慣例，首要需求再解釋一下啥是CP和FT測試.CP是(Chip Probe)的縮寫，測試治具定制，指的是芯片在wafer的期間，就經(jīng)過探針卡扎到芯片管腳上對芯片進(jìn)行機(jī)能及功用測試，有時候這道工序也被稱作WS(Wafer Sort);而FT是Final Test的縮寫，指的是芯片在封裝完結(jié)今后進(jìn)行的測試，只要經(jīng)過測試的芯片才會被出貨。

測試治具介紹

ICT測試治具有單面雙面之分，通用天板方便交換機(jī)種 ，使用可調(diào)培林座，容易保養(yǎng)，測試治具公司，使用壓克力＆電木＆FR-4 材質(zhì)，直接文件處理生成鉆孔文件，保證鉆孔精度。 測試程式自動生成，避免手工輸入出錯之可能 適用于tri、jet、newsys、okano、tescon、takay、src、concord等ICT機(jī)型。兩被測點(diǎn)或被測點(diǎn)與預(yù)鉆孔之中心距不得小于0.050'（1.27mm）。以大于0.100'（2.54mm）為佳，測試治具，其次是0.075'（1.905mm）。

在線測試通常是生產(chǎn)中di一道測試工序，能及時反應(yīng)生產(chǎn)制造狀況，利于工藝改進(jìn)和提升。ICT測試治具測試過的故障板，因故障定位準(zhǔn)，維修方便，可大幅提高生產(chǎn)效率和減少維修成本。

測試治具能夠檢查制成板上在線元器件的電氣性能和電路網(wǎng)絡(luò)的連接情況。能夠定量地對電阻、電容、電感、晶振等器件進(jìn)行測量，測試治具廠家，對二極管、三極管、光藕、變壓器、繼電器、運(yùn)算放大器、電源模塊等進(jìn)行功能測試，對中小規(guī)模的集成電路進(jìn)行功能測試。

測試治具通過直接對在線器件電氣性能的測試來發(fā)現(xiàn)制造工藝的缺陷和元器件的不良。元件類可檢查出元件值的超差、失效或損壞，Memory類的程序錯誤等。對工藝類可發(fā)現(xiàn)如焊錫短路，元件插錯、插反、漏裝，管腳翹起、虛焊，PCB短路、斷線等故障。測試的故障直接定位在具體的元件、器件管腳、網(wǎng)絡(luò)點(diǎn)上，故障定位準(zhǔn)確。對故障的維修不需較多專業(yè)知識。采用程序控制的自動化測試，操作簡單，測試快捷迅速，單板的測試時間一般在幾秒至幾十秒。